Page 275 - Electronics Mechanic 1st Year - TP -Gujarati
P. 275
કા્ય્થ 2: એિાલરોગ આઈ્સી ટેસ્ટર ્સાથે આપેલ ઓપ-એમ્પ અિે ટાઈમર આઈ્સીનું પરીક્ષણ
IC ટેસ્ટર પા્સે સ્વ-પરીક્ષણ બટિ છે. તેિે દબાવવા પર, IC િોંધ: ZIF ્સરોકેટ ઝીરરો ઇન્્સશ્ડિ િરો્સ્ડિરો ્સંદભ્ડ આપે છે. તે
ટેસ્ટર તેિા પરોતાિા હાર્્ડવેરનું સ્વ-નિદાિ પરીક્ષણ કરે છે. તે ઈલેક્ટ્રોનિક ઉપકરણરોિે માઉન્ કરવા માટે એક પ્રકારનું ્સરોકેટ છે
ઓપરેશિિા બે મરોર્ ધરાવે છે જે નિવેશ દરમમ્યાિ તેમિે તણાવ અથવા નુક્સાિ િ પહોંચાર્વા
માટે રચા્યેલ છે.
1 ઝર્પી ક્સરોટી - પરીક્ષણ કરવા અિે તરત જ પફરણામ આપવા.
4 IC ટેસ્ટરની પાિર સ્િીચ ચાલુ કરયો IC ટેસ્ટરના કીપદેડ પર IC નંબર
2 સ્ટેપવાઇઝ ટેસ્ટ - IC માં હાર્્ડવેરિરો ક્યરો ભાગ નિષ્ફળ ગ્યરો
છે તે જાણવા માટે. આ પદ્ધમતમાં, જો ડ્ુઅલ ઓપ-એમ્પ દાખલ કરયો અનદે TEST કી દબાિયો અનદે પરરણામ જુઓ.
આઈ્સીમાં એક એએમપી ્સારી હરો્ય તરો પણ આઈ્સીિરો િોંધ: IC પરીક્ષક તેિી લાઇબ્ેરીમાં ઉપલબ્ધ દરેક એિાલરોગ ICિે
ઉપ્યરોગ કરી શકા્ય છે. ચકા્સવા માટેિા કા્ય્ડક્રમરો/પરીક્ષણ પ્રફક્ર્યાિા ્સમૂહિરો ્સમાવેશ
કરે છે. તે વવવવધ પગલાઓિી પ્રફક્ર્યાઓ તપા્સે છે અિે તેમાં
1 લદેબયોરેટરીમાં ઉપલબ્ધ એનાલયોગ/યુનનિસ્થલ IC ટેસ્ટરના ઓપરેશનર્ી
પરરચચત IC ટેસ્ટરના સૂચના ઑપરેશન મદેન્ુઅલનયો સંદર્્થ લયો. આપેલા ફર્સ્્લલે પર ્સારા કે ખરાબ તરીકે પફરણામ આપે છે.
5 આપદેલ IC સારું (અર્િા) ખરાબ છદે કે કેમ તદે IC ટેસ્ટરના પ્દશ્થનનું
ફિગ 1 માં બતાવ્્યા પ્રમાણે ટેસ્ટર ્સાથે ક્યા ICનું પરીક્ષણ કરી
શકા્ય છે તે જાણવા માટે ટેસ્ટરિી એિાલરોગ ICિી લાઇબ્ેરીમાં અિલયોકન કરીનદે શયોધયો અનદે કયોષ્ટક 2 માં પરરણામ રેકયોડ્થ કરયો.
ઓપરેટર મેન્ુઅલ િોંધિરો ઉપ્યરોગ કરરો. 6 સારા અનદે ખામીયુક્ત િચ્દેનયો તફાિત બતાિિા માટે ઓછામાં ઓછા
3 Op-Amps અનદે 3 ટાઈમર IC માટે કસરતનું પુનરાિત્થન કરયો અનદે
Fig 1
કયોષ્ટક 2 માં રેકયોડ્થ કરયો.
કરોષ્ટક 2
ક્ર. િા. IC િંબર ટેસ્ટ મરોર્ IC િી ક્થિમત
Analog IC Tester
2 લદેબલ ર્્યદેલ ICમાંર્ી એક પસંદ કરયો, વપન નંબર ઓળખયો. 1, અનદે તદેનદે/
ZIF સયોકેટ પયોશિશન મુજબ રદશા આપયો.
3 ZIF સયોકેટનું સ્તર ખયોલયો અનદે IC નદે કાળજીપૂિ્થક સ્થિમતમાં દાખલ કરયો.
ઇલેક્ટ્ટ્ટ્રરોિવક્ટ્્સ અિે હાર્ટ્ર્વેર : ઇલેક્ટ્ટ્ટ્રરોિવક મવકેિવક (NSQF - ્સુધારેલ 2022) - વ્ટ્્યા્યામ 1.14.127 249